| ファイル名 | アクション |
| doi_semminar_20150630_03.pdf |  |
| 開催日 | 2015年6月30日 |
| タイトル | Made in JapanのLSI デバイス設計CADシステム Advance/TCADのご紹介【過渡解析と複数トランジスタの一括解析】 |
| 言語 | 日本語 |
| 著者 | アドバンスソフト株式会社 |
| 要約 | ○デバイスシミュレーションの過渡解析手法 ○複数トランジスタの一括過渡解析 ・一括解析の必要性 ・一括解析の手法 ・CMOSインバータのチェーン解析事例 ○外部回路を含んだ過渡解析 ・外部回路の解析手法 ・解析事例 ○過渡解析におけるその他の機能 ・レート方程式による空間固定電荷、再結合モデル ・過渡解析におけるバイアス印加 |
| DOI | 10.69290/s.000775 |
| キーワード | |
| ページ数 | 20 |