| ファイル名 | アクション |
| doi_semminar_20100218_04.pdf |  |
| 開催日 | 2010年2月18日 |
| タイトル | 技術セミナー 2次電池ＣＡＤシステム【ナノシミュレーションによる内部抵抗解析】 |
| 言語 | 日本語 |
| 著者 | アドバンスソフト株式会社 |
| 要約 | 開発システムにおける内部抵抗評価の位置づけ, 内部抵抗の原因と解析ターゲット, 電解質の誘電率の解析, 拡散係数の解析, 電解質の粘性率の解析, Ｌｉイオン移動度の解析, 拡散係数とイオン移動度と内部抵抗の関係 |
| DOI | 10.69290/s.000103 |
| キーワード | |
| ページ数 | 10 |