宇田 毅 Tsuyoshi UDA
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アドバンスソフト株式会社 取締役 〒107-0052 東京都港区赤坂1丁目9番20号 第16興和ビル南館7階 アドバンスソフト株式会社 本社 |
学位
理学博士
略歴
1967年3月 東京大学理学部物理学科卒業
1972年3月 東京大学理学系大学院博士課程卒業
1972年4月 中央大学理工学部、日本大学文理学部非常勤講師
1973年4月 日立製作所中央研究所研究員
1983年8月 中央研究所主任研究員
1985年3月 基礎研究所主任研究員
1993年11月 アトムテクノロジー研究体 理論グループ・リーダー
2002年3月 日立製作所基礎研究所主任研究員
2004年4月 アドバンスソフト株式会社
学会および社会における活動
1977年 日本物理学会世話人
1985年 JJAP編集委員
メッセージ
ガラスは無色透明で光を通すのに、金属はなぜ光を通さず電気を流すのだろうか。こんな素朴な疑問に端を発して、材料シミュレーションの世界に飛び込むことになりました。当時は現象の理解や説明に限られていましたが、とどまる所を知らないコンピューターの進歩により、最近では材料特性の予測や設計も可能になってきました。
説明から予測へ、この質的進化が材料シミュレーションの活躍の場を広げています。触媒材料、電池材料、水素貯蔵材料などのシミュレーションによる開発に意欲を燃やしています。
書籍
計算物理
- T. Uda et al., ed. K. Hamakawa, "Japan Annual Reviews in Electronics, Computers & Telecommunications.22, Amorphous Semiconductor Technology & Devices ", Ohmsha and North-Holland (1987).
- 宇田 毅 他, 山本良一, 田中實 編, "計算物理学と計算化学", 海文堂(1988).
- 宇田 毅 他, 山本良一 編, "シリコン・テクノロジーI", 海文堂(1991).
- T. Uda et al., eds. A. Okiji et al., "Elementary Processes in Excitations and Reactions on Solid Surfaces", Springer-Verlag (1996).
- 宇田 毅 他, 田中一宜, 市川昌和 編著, "ナノテクノロジーの最前線:アトムテクノロジーへの挑戦 1", 日経BP社 (2001).
- S.H. Ke and T. Uda, , eds., S. Morita, R. Wiesendanger and E. Meyer ."Noncontact Atomic Force Microscopy", Springer-Verlag (2002).
業務・研究経歴
- 非晶質カルコゲナイドを用いた撮像管の開発
- 第一原理計算による非晶質の原子構造の研究
- 第一原理計算による半導体表面構造の研究
発表論文
計算物理・半導体表面
- T. Uda, "Optical Properties of Graphite in the Far-Infrared Region", J. Phys. Soc. Japan 28, 946 (1970).
- T. Uda, H. Ushio and Y. Uemura, "Theory of Cycrotron Resonance in Graphite I. Determination of the Degree of Band Warping", J. Phys. Soc. Japan 33, 1551 (1972).
- T. Uda, H. Ushio and Y. Uemura, "Theory of Cycrotron Resonance in Graphite II. The effect of Spatial Dispersion", J. Phys. Soc. Japan 36, 653 (1974).
- T. Uda and E. Yamada,. "Doping Effect in Chalcogenide Glasses", J. Phys. Soc. Japan 46, 515 (1979).
- T. Uda and E. Yamada, "Theory of Trap Controlled Transient Photoconduction in Chalcogenide Glasses", J. Non-Cryst. Solids 35, 105 (1980).
- Y. Takasaki, T. Uda and E. Yamada, "Gap States in Doped Amorphous Selenium", J. Phys. Soc. Japan 49 (1980) Suppl. A1159.
- T. Uda and T. Motooka, "Electronic and Optical Properties of Hydrogenated Amorphous Silicon" J. Non-Crys. Solids 59, 81 (1983).
- T. Uda, "Atomic Structure of Amorphous Silicon", Solid State Commu. 64, 837 (1987).
- S. Ihara, S.H. Ho, T. Uda and M. Hirao, "Ab Initio Molecular Dynamics Study of Defects on the Reconstructed Si(001) Surface", Phys. Rev. Lett. 65, 1909 (1990).
- T. Uda and M. Hirao, "Electronic and Optical Properties of Hydrogenated Silicon Clusters", J. Phys. Soc. Japan 63 (1994), Suppl. B97.
- T. Uda and K. Terakura, "Structure model for the type C defect on the Si(001) Surface", Phys. Rev. B 53, 6999 (1996).
- T. Uda, "Electronic and Optical Properties of Hydrogenated Silicon Clusters", Surf. Rev. Lett. 3, 127 (1996).
- T. Yamasaki, T. Uda and K. Terakura, "Initial Process of Si Homoepitaxial Growth on Si(001)", Phys. Rev. Lett. 16, 2949 (1996).
- K. Kato, T. Uda and K. Terakura, "Backbond oxidation of Si(001) Surface: Narrow Channel of Barrierless Oxidation", Phys. Rev. Lett. 80, 2000 (1998).
- M. Okamoto, T. Yokoyama, T. Uda and K. Takayanagi, "Strain effects of missing dimer defects on dimer buckling of the Si(100) surface", Phys. Rev. B 62, 12927 (2000).
- K. Kato and T. Uda, "Chemisorption of a single oxygen molecule on the Si(001) surface: Initial oxidation mechanism", Phys. Rev. B 62, 15978 (2000).
- T. Yamasaki, C. Kaneta, T. Uda and K. Terakura, "Geometric and electronic structure of SiO2/Si(001) interfaces", Phys. Rev. B 63, 115314 (2001).
- S. H. Ke, T. Uda, I. Stich and K. Terakura, "First-principles simulation of atomic force microscopy image formation on a GaAs(110) surface: Effect of tip morphology", Phys. Rev. B 63, 235323 (2001).
- M. Okamoto, T. Uda and K. Takayanagi, "Quantum conductance of helical nanowires", Phys. Rev. B 64, 033303 (2001).
- T. Yamasaki, K. Kato and T. Uda, "Oxidation of the Si(001) Surface: Lateral Growth and Formation of Pb0 Centers", Phys. Rev. Lett. 91, 146102 (2003).


